TipCheck-Aurora的针尖表征样品
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产品描述

      AFM探针使用中存在的问题
      当使用AFM扫描一个新的样品,可能很难知道是否获得了表面的准确信息。即使是样品有着特征结构以及形貌清晰。故此需要一个评估图像上针尖的影响的独立的方法。
      考虑如下:
      1、 一个破碎的或者畸形的针尖导致的不准备的测试结果,这样就必须花额外的时间来分辨获得图像的质量,更加糟糕的是,在针尖的损坏过程中,样品的真实的自然的形貌可能在无意中被忽视。
      2、 利用SEM等显微技术,来寻找针尖是否损坏,既不方便也不经济,不能用于常规的实验。

      一个简单方便而且可取的方法,就是预先筛选所有的AFM探针。这样,所有使用筛选过的探针的人都可以节省时间和精力,避免因破损探针造成的不必要的损失。
      幸运的是,我们提供一种简单有效的方法,可以预先筛选针尖,并且评估分级。

TipCheck的介绍:
      TipCheck利用反向成像提供了快速和简单的方法来评估针尖,而不需要扫描电镜等的使用。
      TipCheck帮助你在图谱上对针尖进行分类,可用与不可用的定性比较。
      TipCheck膜的微观结构是理想的检测针尖在尖端顶点附近的薄膜。
      这里显示的AFM图像,TipCheck的表面,左图是损坏的针尖,右图是好的针尖。
      TipCheck的薄膜是在一个硅片上的芯片,随时可以放置在AFM上使用。
      有详细的技术文档提供图像可与你获得的图像进行比较。
      本样品在清洁,干燥的地方保存,可以使用多年。


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TIP001

1

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若与Aurora公司的NioProbe产品一起订购,一套NIO001+Tip001各一,总价为3600元。
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