NanoWorld SSS-SEIH高分辨轻敲模式AFM探针
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产品描述

     NanoWorld Pointprobe SEIHR probes是专为精工仪器的使用者设计的非接触模式成像的探针。

     Pointprobe系列的所有探针均是采用高掺杂的单晶硅,从而消除静电产生。化学惰性并且具有高的Q因子,从而获得高的灵敏度。针尖的形状是像金字塔的多边形,高度为10~15微米。

     我们专门设计生产了具有超小的分辨率的用于测量纳米结构和纳米粗糙度的探针,这就是源于先进的切割工艺的SuperSharpSilicon tip,它具有无与伦比的分辨率。

SSS系列探针独特的性能:

     1、针尖曲率半径为2nm ;
     2、保证80%以上的针尖的曲率半径小于5nm;
     3、在针尖尖端200nm之前半锥角小于10度;

NanoSensors AR-NCH 大长径比轻敲模式AFM探针

应用范围:
     该探针是专为测试纳米结构以及微小的粗糙度而提供的。

技术数据:

Technical Data

Value

Range

Force Constant

15N/m

9 - 25

Resonance Frequency

130 kHz

110 - 150

Length

225µm

220 - 230

Width(rectangular part)

33 µm

27.5 – 37.5

Thickness

5 µm

4.5 - 5.5

Shape / Cross-section

Rectangular / Trapezoidal

Number of Cantilevers

1

Tip Offset

14 - 16 µm

Tip Style

Pyramidal

Tip Height

10-15 µm

Tip Radius

2nm,<5 nm

Tip Aspect Ratio

-

Material

Single Crystal Silicon, Highly Doped

Chip Size

(industry standard)

 

Coating (optional)

Without

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