Team NanoTec SS-ISC (225C3.0-R)
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产品描述

     Team Nanotec SS-ISC AFM probes 是专为测量表面粗糙度而设计的力调制模式高分辨AFM探针。为测试所有悬臂都有铝涂层,可以选择没有涂层,或者特殊涂层。

     所有探针在发运前都要通过SEM进行质量检查。(可以要求SEM照片)。

     每个包装5根探针。


应用范围:
     该探针是专为测量表面粗糙度而设计的力调制模式高分辨AFM探针。

技术数据:

Technical Data

Value

Range

Force Constant

3.0N/m

-

Resonance Frequency

75 kHz

-

Length

225µm

± 15µm

Width(rectangular part)

35 µm

± 3µm

Thickness

-

-

Shape / Cross-section

Rectangular / Trapezoidal

Number of Cantilevers

1

Tip Offset

0

Tip Style

Pyramidal

Tip Height

> 9µm

Tip Radius

<5 nm

Full cone angle

< 5° for < 150 nm

Material

 

Chip Size

(industry standard)

3.4 mm×1.55 mm×0.32 mm

Coating (optional)

Aluminum reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )

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产品所属品牌


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5

铝反射涂层

全部

1

SS-ISC (225C3.0-R)

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