产品描述：
● Team Nanotec LRCH AFM probes是力调制模式大曲率半径半球形针尖AFM探针。
● 这款针尖非常适合是使用在大扫描区域的台阶高度的测量。
● 针尖形状为半球形，适合于使用纳米压痕法来表征材料（诸如生物医学材料）
● 每个针尖都有SEM图片和测量结果，便于压痕后数据的处理
● 所有悬臂都有铝涂层，没有涂层，或者特殊涂层。
● 所有探针在发运前都要通过SEM进行质量检查。（可以要求SEM照片）。
● 每个包装5根探针。
应用范围：
大扫描区域的台阶高度的测量，使用纳米压痕法来表征材料（诸如生物医学材料）
悬臂数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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3.0N/m
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-
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Resonance Frequency
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75 kHz
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-
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Length
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225µm
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±
15µm
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Width(rectangular part)
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35 µm
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±
3µm
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Thickness
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-
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-
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Shape / Cross-section
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Rectangular
/ Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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-
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Tip Style
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Large
Radius Hemispherical Tip
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Tip Height
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-
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Tip Radius
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250,
500, or 750 nm
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Full cone angle
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45°
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Material
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Silicon
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Chip Size
(industry standard)
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3.4
mm×1.55 mm×0.32 mm
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Coating (optional)
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Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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