产品描述：
PointProbe Plus (PPP)在PointProbe基础上再减少针尖的曲率半径，使得针尖曲率半径仅为7nm，增加了针尖的可用性和分辨率。
FM是专为力调制模式而设计的。这款探针的力常数居于接触与非接触模式探针之间。此外，该探针可用于非接触/轻敲模式成像，但是稳定性会降低。
旋转的针尖进行扫描可得到跟过对称的图像。旋转的针尖形状与普通针尖一样，只是沿着悬臂梁方向进行了180度的旋转。
该探针独特的功能：
- 保证针尖的曲率半径<10纳米
- 高掺杂材质使得悬臂防静电
- 高机械品质Q因子以及高灵敏度，
- Al反射涂层，增强激光反射光束强度约2.5倍；
- 探针基片背面有对准凹槽
- 与对准芯片联用针尖对准的精确度小于+/- 2 μm
- 可与PointProbe Plus XY-Alignment 对准芯片联用
反射涂层是在悬臂的反射面上加上了一层约30nm厚的铝涂层，从而增强了激光束的反射率2.5倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。悬臂弯曲度小于2％。
应用范围：
力调制模式探针。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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2.8N/m
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0.5
- 9.5
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Resonance Frequency
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75 kHz
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45
- 115
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Length
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225µm
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215
- 235
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Width(rectangular part)
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28 µm
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20
- 35
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Thickness
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3 µm
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2.0
- 4.0
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Shape / Cross-section
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Rectangular / Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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14
- 16 µm
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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10-15
µm
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Tip Radius
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7
nm
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Tip Aspect Ratio
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-
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Material
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Single
Crystal Silicon, Highly Doped
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Chip Size
(industry standard)
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Coating (optional)
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Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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