NanoWorld CONT/CONTR接触模式探针
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产品描述

      NanoWorld Pointprobe CONT probes 是专为接触模式成像设计的。此外,还可用于力距离曲线和脉冲力模式(PFM).CONT系列探针具有较低的力常数和极高的灵敏度。

      Pointprobe系列的所有探针均是采用高掺杂的单晶硅,从而消除静电产生。化学惰性并且具有高的Q因子,从而获得高的灵敏度。针尖的形状是像金字塔的多边形,高度为10~15微米。

      针尖曲率半径小于8nm。

      反射涂层是在悬臂的反射面上加上了一层约30nm厚的铝涂层,从而增强了激光束的反射率2.5倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。悬臂弯曲度小于2度。

应用范围:
      接触模式 。

技术数据:

Technical Data

Value

Range

Force Constant

0.2N/m

0.07 - 0.4

Resonance Frequency

13 kHz

9 - 17

Length

450µm

445 - 455

Width(rectangular part)

50 µm

45 - 55

Thickness

2 µm

1.5 - 2.5

Shape / Cross-section

Rectangular / Trapezoidal

Number of Cantilevers

1

Tip Offset

14 - 16 µm

Tip Style

Pyramidal

Tip Height

10-15 µm

Tip Radius

8 nm

Tip Aspect Ratio

-

Material

Single Crystal Silicon, Highly Doped

Chip Size

(industry standard)

 

Coating (optional)

Aluminum reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )

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