产品描述：
● NanoWorld Pointprobe CONTSCR AFM probe 是接触模式另一种应用的探针。悬臂长度的减小，使得更换为轻巧模式时更加灵活(在某些AFM上，光路的调节比较麻烦)。此外，该探针可应用于横向力或摩擦力显微镜。
● Pointprobe系列的所有探针均是采用高掺杂的单晶硅，从而消除静电产生。化学惰性并且具有高的Q因子，从而获得高的灵敏度。针尖的形状是像金字塔的多边形，高度为10～15微米。
● 针尖曲率半径小于8nm。
● 反射涂层是在悬臂的反射面上加上了一层约30nm厚的铝涂层，从而增强了激光束的反射率2.5倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。悬臂弯曲度小于2度。
应用范围：
短悬臂，接触模式。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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0.2N/m
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0.02
- 0.7
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Resonance Frequency
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23 kHz
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10
- 39
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Length
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225µm
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220
- 230
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Width(rectangular part)
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48 µm
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42.5
- 52.5
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Thickness
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1 µm
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0.5
- 1.5
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Shape / Cross-section
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Rectangular / Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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14
- 16 µm
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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10-15
µm
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Tip Radius
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8
nm
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Tip Aspect Ratio
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-
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Material
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Single
Crystal Silicon, Highly Doped
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Chip Size
(industry standard)
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Coating (optional)
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Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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