产品描述：
NANOSENSORS PPP-MFMR 原子力显微镜探针专为测量软磁性样品上的磁畴而设计的磁力探针。该探针兼顾了合理的灵敏度，分辨率和矫顽力。由于针尖上的软磁性涂层，使得其较易被硬磁样品磁化。该探针在磁性记录媒体和其他磁性样品上稳定成像。
该探针专为MFM设计的力常数使得当进行轻敲模式和抬起模式时具有很高的力灵敏度。
硬磁性涂层使得针尖具有高对比度和优于50nm的磁畴横向分辨率。
该硬磁涂层有300 Oe的矫顽力，以及300 emu/cm3的剩磁磁化(平面上的测量值)。
PPP- MFMR探针独特的性能：
- 硬磁性涂层，矫顽力为300Oe，剩磁为300 emu/cm3；
- 有效磁矩为10-13 emu；
- 导电涂层；
- 包括涂层的针尖的曲率半径小于50nm；
- 磁性分辨率优于50nm；
- Al反射涂层，增强激光反射光束强度约2.5倍；
- 探针基片背面有对准凹槽
- 与对准芯片联用针尖对准的精确度小于+/- 2 μm
- 可与PointProbe Plus XY-Alignment 对准芯片联用
反射涂层是在悬臂的反射面上加上了一层约30nm厚的铝涂层，从而增强了激光束的反射率2.5倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。悬臂弯曲度小于3.5%。
建议为增强信号强度，测量前先用强的永磁体磁化。
应用范围：
软磁性材料的测量。PPP-QLC-MFMR-10适合真空中使用。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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2.8N/m
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0.5
- 9.5
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Resonance Frequency
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75 kHz
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45
- 115
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Length
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225µm
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215
- 235
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Width(rectangular part)
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28 µm
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20
- 35
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Thickness
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3 µm
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2.0
- 4.0
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Shape / Cross-section
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Rectangular / Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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14
- 16 µm
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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10-15
µm
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Tip Radius
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<50
nm
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Tip Aspect Ratio
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-
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Material
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Single
Crystal Silicon, Highly Doped
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Chip Size
(industry standard)
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Coating (optional)
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Hard
magnetic coating
Aluminum reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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