产品描述：
NANOSENSORS PPP-LM-MFMR原子力显微镜探针专为测量磁性样品设计的减少针尖对样品磁干扰和增强横向分辨率的磁力探针。该探针专为MFM设计的力常数使得当进行轻敲模式和抬起模式时具有很高的力灵敏度。
硬磁性涂层使得针尖具有高对比度和优于50nm的磁畴横向分辨率。
该软磁涂层有250 Oe的矫顽力，以及150 emu/cm3的剩磁磁化(平面上的测量值)。
PPP- MFMR探针独特的性能：
- 硬磁性涂层，矫顽力为250Oe，剩磁为150 emu/cm3；
- 有效磁矩为标准探针MFMR的0.5倍；
- 导电涂层；
- 包括涂层的针尖的曲率半径小于30nm；
- 磁性分辨率优于35nm；
- Al反射涂层，增强激光反射光束强度约2.5倍；
- 探针基片背面有对准凹槽
- 与对准芯片联用针尖对准的精确度小于+/- 2 μm
- 可与PointProbe Plus XY-Alignment 对准芯片联用
反射涂层是在悬臂的反射面上加上了一层约30nm厚的铝涂层，从而增强了激光束的反射率2.5倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。悬臂弯曲度小于3.5%。
建议为增强信号强度，测量前先用强的永磁体磁化。
应用范围：
软磁性材料的测量。PPP-QLC-MFMR-10适合真空中使用。
技术数据：
Technical Data |
Value |
Range |
Force Constant |
2.8N/m |
0.5
- 9.5 |
Resonance Frequency |
75 kHz |
45
- 115 |
Length |
225µm |
215
- 235 |
Width(rectangular part) |
28 µm |
20
- 35 |
Thickness |
3 µm |
2.0
- 4.0 |
Shape / Cross-section |
Rectangular / Trapezoidal |
Number of Cantilevers |
1 |
Tip Offset |
14
- 16 µm |
Tip Style |
Pyramidal |
Tip Height |
10-15
µm |
Tip Radius |
<30
nm |
Tip Aspect Ratio |
- |
Material |
Single
Crystal Silicon, Highly Doped |
Chip Size
(industry standard) |
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Coating (optional) |
Hard
magnetic coating
Aluminum reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side ) |
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