Team NanoTec CDP55计量圆柱形AFM探针
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产品描述  

     计量型的圆柱形探针是专为深度测量设计的。由于从针尖到底部特殊的形状,使得针尖在其使用过程中,形状始终保持不变,即使是磨损。这确保在制造环境中可靠的测量和TeamNanoTec的所有探针一样,计量型的圆柱形探针都是由单晶硅制成。针尖的磨损以及寿命取决于针尖与样品之间材料的结合。为了计算这个,Team NanoTec提供了小的计量型的圆柱形探针,由单晶硅或者氮化硅制成的。

     另外,所有探针可选有导电碳涂层的。

     TeamNanoTec提供了广泛的针尖直径范围,从最小15nm到200nm的直径均有。每个直径结合不同的探针长度,确保探针的参数适合各种不同应用的要求。

     -  所有针尖有0°和3°的倾斜修正两款,所以探针与样品之间的倾斜可以得到补偿。
     -  可要求定制10°,12°和13°倾斜修正的
     -  所有探针在装包前均通过扫描电子显微镜的检查和测量。
     -  所有悬臂都有铝涂层,没有涂层,或者特殊涂层。
     -  所有探针在发运前都要通过SEM进行质量检查。(可以要求SEM照片)。
     -  每个包装5根探针。


应用范围:

AFM深度及宽度测量



技术数据:

Technical Data

Value

Range

Force Constant

40N/m

 -

Resonance Frequency

300 kHz

 -

Length

125µm

± 15µm

Width(rectangular part)

35 µm

± 3µm

Thickness

-

-

Shape / Cross-section

-

Number of Cantilevers

1

Material

Single Crystal Silicon, Highly Doped

Chip Size

(industry standard)

3.4 mm×1.55 mm×0.32 mm

Coating (optional)

Aluminum reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )

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产品所属品牌


www.team-nanotec.de


订购型号:

Model

Diameter

min Length

tilt angle

carbon coating

Note

CDP 55/1300

50 -60 nm

1300 nm

no

5pcs

CDP55/800 (CDP55L) (125C40 - R)

45 -55 nm

800 nm

no

5pcs

CDP55/500 (125C40 - R)

45 -55 nm

500 nm

no

5pcs

CDP 55/1300 C

50 -60 nm

1300 nm

yes

5pcs

CDP55/800 C (125C40 - R)

45 -55 nm

800 nm

yes

5pcs

CDP55/500 C (125C40 - R)

45 -55 nm

500 nm

yes

5pcs

CDP 55/1300- 3D

50 -60 nm

1300 nm

no

5pcs

CDP55/800 - 3D (125C40 - R)

45 -55 nm

800 nm

no

5pcs

CDP55/500 - 3D (125C40 - R)

45 -55 nm

500 nm

no

5pcs

CDP 55/1300 C - 3D

50 -60 nm

1300 nm

yes

5pcs

CDP55/800 C - 3D (125C40 - R)

45 -55 nm

800 nm

yes

5pcs

CDP55/500 C - 3D (125C40 - R)

45 -55 nm

500 nm

yes

5pcs